客戶咨詢熱線：
18922517093
日本ARK線照明UV-LED光源LS-180 這是一種UV-LED光源，以線條形狀發射高強度紫外線。 我們提供滿足您需求的光源，例如線長、寬、波長和紫外線強度。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1138
LS-1-RAL3日本ARK用于半導體標線對準的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK用于半導體標線對準的UV-LED光源LS-1-RAL3 這是一種UV-LED光源，用作標線對準的照明。 通過切換到獨立的LED照明進行標線對準，可以照射具有高穩定性和長壽命的高質量光。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1173
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 光學測量儀
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 它是一種UV-LED光源，可以高強度照射Φ20~30mm區域。 UV-LED 燈頭緊湊地組合了多個 LED，可有效照亮所需區域。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1075
日本ARK點照射UV-LED固化燈LS-4C 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學元件和非常小的部件的理想選擇。 此型號專為獨立使用而設計。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1142
SF-IR54-4-406日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源SF-IR54-4-406 這是一種用于液晶面板周邊曝光的UV-LED光源。 通過將使用UV燈和光導的傳統方法改為UV-LED頭方法，大大有助于延長光源的使用壽命并降低維護成本。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1085
EW04S日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源EW04S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。 光學設計可實現 7，000 mW/cm² 或更高的高輸出。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1162
EW01S日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源EW01S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1064
日本ARK點照射通用光源AGIL-V 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學元件和非常小的部件的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：885
YP-150I/YP-250I日本yamada半導體晶圓瑕疵檢查燈 光學測量儀
日本yamada半導體晶圓瑕疵檢查燈YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-23 訪問量：1018
YP-150I/YP-250I日本yamada半導體行業用目視檢查燈 光學測量儀
日本yamada半導體行業用目視檢查燈YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1260
日本yamada液晶面板檢查燈YP-150I/YP-250I 光學測量儀
日本yamada液晶面板檢查燈YP-150I/YP-250I 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面 的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1353
日本sena高照度目視檢查燈100LE 高照度照明設備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-23 訪問量：930
日本sena手機屏幕檢查燈370TFI/R 光源 直流點燈 17V/185W 鹵素燈 照度調整 連續可調至大照度的 20%
更新日期：2024-03-23 訪問量：913
日本sena觸摸屏面板檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-23 訪問量：872
L10706日本hamamatsu UV-LED 真空紫外光源單元 光學測量儀
日本hamamatsu UV-LED 真空紫外光源單元L10706 S2D2 VUV 光源單元是一種真空紫外光源單元，集成了 MgF2 窗型緊湊型氘燈。這款光源單元配備帶有真空法蘭和有的制冷機制的 SUS 柔性管，可在極近距離照射物體或樣品，并且可以在減壓條件下安裝和操作。
更新日期：2024-03-23 訪問量：894
