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日本seric彩妝行業用色差檢查燈XELIOS-iO 無極燈
日本seric彩妝行業用色差檢查燈XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：691
日本seric色彩評價用LED光源XELIOS-iO 無極燈
日本seric色彩評價用LED光源XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：1192
日本seric顏料顏色檢查用照明燈XELIOS-iO 無極燈
日本seric顏料顏色檢查用照明燈XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：1039
日本seric色彩檢查用照明燈XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：672
日本seric色彩評價用照明燈XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：1156
日本seric色彩評價人工太陽照明燈XELIOS-iO 無極燈
日本seric色彩評價人工太陽照明燈XELIOS-iO 用于無論何時都可以忠實地重現太陽光、正確看到顏色的照明
更新日期：2024-03-25 訪問量：668
日本NCC金屬劃痕檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
更新日期：2024-03-25 訪問量：664
日本NCC涂裝現場用灰塵檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
更新日期：2024-03-25 訪問量：816
日本NCC產品缺陷檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
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日本NCC噴漆現場用灰塵檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
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日本NCC印刷現場用灰塵檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
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日本NCC薄膜制造行業用灰塵檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
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日本NCC半導體行業用劃痕檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
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日本NCC產品劃痕檢查燈Quantum 在噴漆、印刷、精密裝配、薄膜制造等場所，許多缺陷是由灰塵等粗顆粒引起的。但一般情況下肉眼是看不到粗顆粒的。因此，通過產生直射且強力的光的“Quantum”照射產品和夾具的表面，可以通過目視輕松地確認粗顆粒。
更新日期：2024-03-25 訪問量：657
日本NCC貼膜前確認除塵檢查燈Triton 可將空間中的浮游灰塵可視化。也有對眼睛無傷害的綠光版檢測燈；Triton 具有HID的同等光亮，可將空間中浮游的灰塵可視化的特殊燈。是解決涂裝，印刷，膠片加工，組裝，FPD組裝等工程多發的灰塵不良現象的一個對策。
更新日期：2024-03-25 訪問量：673
